El Laboratorio de Medición de Reflectancia SphereOptics de Pro-Lite está equipado con dos espectrofotómetros UV-VIS-NIR de alta sensibilidad y última generación de Perkin Elmer: el Lambda 950 y el Lambda 1050. Ambos dispositivos cuentan con esferas integradoras configuradas con una geometría de 8°/H para realizar mediciones de reflectancia hemisférica total. Además, el Lambda 1050 dispone de un accesorio adicional que permite medir la reflectancia angular y la función de distribución bidireccional de la reflectancia (BRDF).
Se ofrecen mediciones para materiales proporcionados por el cliente, así como recalibraciones acreditadas para los estándares de reflectancia Spectralon de Labsphere, Zenith de SphereOptics u otros estándares y objetivos de terceros. Las mediciones de reflectancia y transmitancia espectral se realizan en el rango de 250 a 2450 nm utilizando un espectrofotómetro de doble haz con grabación de relación de Perkin Elmer, ya sea el Lambda 950 o el Lambda 1050, ambos equipados con una esfera integradora Spectralon de Labsphere de 150 mm con geometría de recolección 8°/H.
El Laboratorio de Medición de Reflectancia de SphereOptics (grupo Pro-Lite) está equipado con espectrofotómetros UV-VIS-NIR de alta sensibilidad y última generación de Perkin Elmer, ya sea el Lambda 950 o el Lambda 1050, ambos dotados de esferas integradoras con geometría de 8°/H para mediciones de reflectancia hemisférica total.
Se ofrecen mediciones para muestras proporcionadas por el cliente, así como recalibraciones acreditadas para estándares de reflectancia como Spectralon de Labsphere, Zenith de SphereOptics u otros estándares y objetivos de terceros. Las mediciones de reflectancia y transmitancia espectral se realizan en el rango de 250 a 2450 nm utilizando un espectrofotómetro de doble haz con registro de relación de Perkin Elmer, ya sea el Lambda 950 o el Lambda 1050, ambos equipados con una esfera integradora Spectralon de Labsphere de 150 mm con geometría de recolección de 8°/H.
La medición de reflectancia espectral se realiza con una geometría de iluminación de 8°. En esta configuración, la muestra se monta en el puerto de la esfera integradora con un ángulo de 8° respecto al haz de iluminación colimado. Esto provoca que la reflexión especular de la muestra incida en la pared de la esfera, permitiendo mediciones de reflectancia total (incluyendo especular). Alternativamente, se puede colocar una trampa de luz en la posición de 8° en la pared de la esfera para realizar mediciones excluyendo la componente especular (solo difusa). Al restar los valores de reflectancia especular excluida de los valores incluidos, se obtiene la magnitud de la reflectancia especular.
Las mediciones de reflectancia se realizan con referencia a un estándar certificado y conocido de reflectancia, ya sea del NIST (EE. UU.) o del PTB (Alemania), dependiendo del tipo de calibración solicitada.
Las mediciones estándar se realizan en el rango de 250 a 2500 nm en pasos de 1 nm. La precisión absoluta en el rango de 300–1750 nm es mejor que <0.45%. La precisión en la longitud de onda de una característica de absorción es <0.75 nm en el rango de 250–1900 nm.
Desde abril de 2020, el laboratorio de Pro-Lite ha obtenido la acreditación según la norma de aseguramiento de calidad DIN EN ISO/IEC 17025:2018. Actualmente, el laboratorio ofrece servicios de medición acreditados por DAkkS para reflectancia espectral conforme a DIN 5036 Parte 3 11.79 para materiales con reflexión difusa en el rango de longitud de onda de 250 a 2450 nm (bandas UV-VIS-NIR). Es el primer laboratorio comercial en Europa en obtener acreditación ISO para la medición y calibración de reflectancia hemisférica total en geometrías tanto con inclusión como exclusión especular, conforme a DIN 5036.
Características clave del servicio de medición de reflectancia
| Tipos de medición | Reflectancia hemisférica total Reflectancia solo especular Reflectancia solo difusa Transmitancia hemisférica total |
| Normativa | Según DIN 5036 Parte 3: 11.79 para materiales con reflexión difusa |
| Previa solicitud especial | Reflectancia hemisférica total en función del ángulo de iluminación |
| Rango de longitud de onda | 250-2450nm |
| Intervalo de registro | 1nm |
| Geometría de medición | 8°/H (iluminación direccional a 8° respecto a la normal de la muestra con recolección hemisférica total) |
| Dimensiones de la muestra | Materiales sólidos, diámetro de 28-100mm, hasta 40mm de grosor, idealmente planos (se acepta cierta curvatura) |
| Datos proporcionados | Informe de prueba impreso y en formato digital |
| Trazabilidad | Todas las mediciones de reflectancia se realizan por sustitución con artefactos de referencia calibrados por un NMI (por ejemplo, NIST o PTB) |
| Acreditación | Opcional – los servicios de calibración pueden solicitarse bajo el alcance de acreditación DAkkS DIN EN ISO/IEC 17025:2018 |
Estaremos encantados de ofrecerle un presupuesto para sus necesidades de medición y calibración de reflectancia. Por favor, proporcione la mayor cantidad de información posible sobre sus requerimientos. Comparta al menos la siguiente información con nosotros por correo electrónico a info@pro-lite.es.
| ¿Qué tipo de medición se requiere? | Como estándar, podemos realizar mediciones de reflectancia hemisférica total, reflectancia especular, reflectancia difusa y transmitancia hemisférica total. Bajo acuerdo especial, también podemos ofrecer mediciones de reflectancia hemisférica total en función del ángulo de iluminación |
| ¿Cuál es el rango de longitud de onda requerido? | Nuestras mediciones estándar se realizan entre 250 y 2450nm |
| ¿Requiere una medición acreditada? | Ofrecemos tanto un servicio estándar como un servicio opcional que se realiza dentro del alcance de nuestra acreditación DAkkS ISO 17025 |
| ¿Cuáles son las dimensiones de la muestra? | Idealmente, sus muestras deben ser planas, con un diámetro (o lado) de 28-100mm y no más de 40mm de grosor. Se aceptan otras formas/tamaños bajo acuerdo especial |
| ¿Cuántos elementos necesita analizar? | |
| Informe | ¿Qué información necesita que se incluya en el informe? ¿Requiere valores de color CIELAB (L*a*b*)? Como estándar, proporcionamos un informe de prueba impreso, así como los datos de reflectancia compilados cada 1nm en formato digital |
| ¿Algo más? | ¡Por favor, háganos saber si tiene otros requisitos! |
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