Los escaterómetros ofrecidos por The Scatter Works, Inc (TSW) varían significativamente en precio y capacidad, y la selección por parte del usuario debe estar dictada por sus necesidades específicas. Todos los instrumentos se pueden adquirir con diferentes fuentes de longitud de onda. El MicroScan II es un escaterómetro simple de láser de diodo único con tres detectores fabricado por TSW, capaz de medir la reflectancia especular y la luz dispersa. El ScatterScope4, fabricado con ScatterMaster LLC, es un instrumento de sobremesa que utiliza múltiples detectores de silicio para escanear 180 grados y medir la dispersión hemisférica y en el plano de incidencia tanto en reflexión como en transmisión.. El TMS es otro instrumento de sobremesa utilizado para escanear placas de silicio y otros reflectantes lisos para determinar la rugosidad rms, presentando los resultados como mapas de rugosidad. Tanto el MicroScan II como el ScatterScope4 y el TMS pueden medir en el plan de incidencia y estimar medidas hemisféricas.
El CASI es un instrumento de investigación de TSW que se puede configurar con múltiples fuentes láser que van desde el near UV hasta el mid-IR, utilizando aperturas de colección y pasos programables para medidas cercanas al especular. El TASC se describe como esencialmente un CASI capaz de realizar medidas hemisféricas, y se han construido sistemas UV, visibles, mid-IR y de banda ancha. Ambos, CASI y TASC, ofrecen mediciones en el plan de incidencia y hemisféricos, y tienen la capacidad de trabajar con un rango amplio de longitudes de onda, incluyendo el mid-IR en el caso del TASC. Todos los modelos tienen la capacidad de estimar el Auto TIS y están disponibles con longitudes de onda cercanas al UV y al IR próximo.
Una característica específica del MicroScan II es su capacidad para monitorizar el envejecimiento de grandes ópticas y su bajo nivel de ruido de 10-7/sr. El ScatterScope4 destaca por su velocidad de escaneo de 15-20 segundos y su facilidad de uso, con operadores que se pueden formar en pocos minutos, lo que lo hace ideal para la industria de la iluminación. El TMS se distingue por proporcionar mapas de rugosidad de superficies lisas como las placas de silicio, en lugar de mapas de defectos superficiales pequeños. El CASI se caracteriza por su capacidad de realizar medidas muy cerca del haz especular, a menos de 0.1 grados, y su bajo nivel de ruido en el visible, limitado por la dispersión de moléculas de aire. Finalmente, el TASC se define por su habilidad para tomar medidas hemisféricas completas, siendo una extensión de las capacidades del CASI.
